GJB150.2A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第2部分:低氣壓（高度）試驗
低氣壓試驗的目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運輸和使用中對低氣壓環(huán)境的適應(yīng)性。主要的試驗參數(shù)是：氣壓值和保持的試驗時間。
氣壓試驗又分為：高氣壓試驗，低氣壓試驗，高度試驗，溫度高度試驗。
依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)有：
低氣壓試驗常依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)有：
GB/T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓》
GB/T2424.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度(低溫、高溫)低氣壓振動(正弦)綜合試驗導(dǎo)則
IEC68-2-41(1976)《基本環(huán)境試驗規(guī)程第二部分試驗試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗》
HB5830.14-96《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件與試驗方法低氣壓(高度)》
JB3224-83)-使用于高海拔地區(qū)電工產(chǎn)品低氣壓試驗方法
GB/T4857.13-1992包裝運輸包裝件低氣壓試驗方法
GB12085.5-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法綜合低溫與低氣壓
GGB/T10590-1989低溫低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備